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- 3D自由面測定システム スタンドアローンタイプ nXF-3D
3D自由面測定システム スタンドアローンタイプ
製品名
nXF-3D
製品名
nXF-3D
12インチウェハーをワンショットで測定し反りとWarpage、Bowを検査
- 2D,3Dのデータを1度に取得
- ウェハー全体をワンショット測定し反りを検査
- WarpageとBowも測定可能
- 最大視野 310×310mmを15秒で測定
- 反りの高さ計測 最大5mmに対応
- 反射面の測定
- 専用ソフトウェア付属
- 専用測定ケースで毎回同じ環境での計測を実現
Nexensor社 の nXF-3D は12インチウェハー全体の反り、WarpageとBowを一度に測定、検査ができる3D測定装置です。
ウェハーだけでなく高反射面や透明な面の測定に向いており、定量的で正確な測定が可能です。フィルムの表面、二次電池パウチ、水素電池の薄板、自動車表面の反りや傷の測定などにもご利用いただけます。
Wafer warpage
Wafer warpage
Battery
Automotive
仕様
システム | 測定原理 | 3D白色干渉・変位計測技術 |
---|---|---|
スキャンタイプ | エリアスキャン | |
繰り返し精度 | <1μm | |
計測時間 | <5秒 | |
測定データ取得時間 | 15秒 | |
光源波長 | 400 ~ 700nm | |
三次元測定 及び解析ソフトウェア |
NX-SCANソフトウェア | |
光学系 | 計測視野 | 310 × 310mm2 |
WD | 430mm | |
ピクセル分解能 | 60.5 |
※ お客様サンプルのデモ測定をご希望の場合はお気軽にご相談ください。
価格
商品コード(型番) | 構成/内容 | 価格 |
---|---|---|
nXF-3D | 3D自由面測定システム スタンドアローンタイプ nXF-3D | お問い合わせ |
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